• 
  XDAL237 X射線熒光測(cè)厚儀

  XDAL237 X射線熒光測(cè)厚儀 憑借電機(jī)驅(qū)動(dòng)（可選）與自上而下的測(cè)量方向，XDL系列測(cè)量?jī)x器能夠進(jìn)行自動(dòng)化的批量測(cè)試。提供 X 射線源、濾波器、準(zhǔn)直器以及探測(cè)器不同組合的多種型號(hào)，從而能夠根據(jù)不同的測(cè)量需求選擇適合的 X 射線儀器。在設(shè)計(jì)上，F(xiàn)ISCHERSCOPE XRAY XDAL型儀器和XDLM型儀器相對(duì)應(yīng)。

  查看詳細(xì)介紹

共 1 條記錄，當(dāng)前 1 / 1 頁(yè)  首頁(yè)  上一頁(yè)  下一頁(yè)  末頁(yè)  跳轉(zhuǎn)到第頁(yè)