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  逆向工程PRINCE775三維掃描儀

  逆向工程PRINCE775三維掃描儀 PRINCE775通過三維掃描技術(shù)可以獲得掃描物體的外形三維數(shù)據(jù),將獲得的三維掃描數(shù)據(jù)和原始的三維圖紙進(jìn)行3D比較分析,可以輕松獲得各個(gè)位置的偏差值, 為大曲面,復(fù)雜結(jié)構(gòu)的尺寸檢測提供友好的解決方案。

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