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  漆膜測(cè)厚儀廠家德國(guó)尼克斯

  漆膜測(cè)厚儀廠家德國(guó)尼克斯 QNix®4200/4500 測(cè)厚儀采用良好的電子技術(shù),能滿足各種不同的測(cè)量要 求。高精度的設(shè)備,堅(jiān)固的結(jié)構(gòu)和便于使用等特點(diǎn)使得該儀器具有廣泛的應(yīng)用。篤摯儀器代理供應(yīng)尼克斯漆膜測(cè)厚儀，尼克斯涂層測(cè)厚儀，德國(guó)尼克斯測(cè)厚儀，qnix測(cè)厚儀*。

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  漆膜測(cè)厚儀_尼克斯qnix8500

  漆膜測(cè)厚儀_尼克斯qnix8500 QNix8500 涂鍍層測(cè)厚儀一體分體通用，帶菜單操作，是一種智能化的測(cè)厚儀?？赏ㄟ^更換探頭來滿足不同的測(cè)量要求，可存儲(chǔ)數(shù)據(jù)，并且可與計(jì)算機(jī)進(jìn)行無線數(shù)據(jù)傳輸。該儀器主機(jī)通用，探頭按基體性質(zhì)及測(cè)量范圍分為多種

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  華東測(cè)厚儀代理 德國(guó)尼克斯

  華東測(cè)厚儀代理 德國(guó)尼克斯 德國(guó)尼克斯 QNIX 涂層測(cè)厚儀可無損地測(cè)量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性涂層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等） 及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導(dǎo)電覆層的厚度（如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。

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  QNix 4500涂層測(cè)厚儀尼克斯代理

  QNix 4500涂層測(cè)厚儀尼克斯代理 涂層測(cè)厚儀是一種便攜式雙基（鐵、鋁）測(cè)量?jī)x，它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室中的精密測(cè)量，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)廣泛地應(yīng)用在金屬制造業(yè)、化工業(yè)等。

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  QNix 4200測(cè)厚儀尼克斯代理

  QNix 4200測(cè)厚儀尼克斯代理 篤摯儀器（上海）有限公司專業(yè)從事無損檢測(cè)、理化分析儀器的代理、生產(chǎn)、銷售。滲透探傷，磁粉探傷，超聲探傷，射線探傷，渦流探傷等五大類探傷儀器、輔耗材銷售一站式服務(wù)。公司是一家生產(chǎn)無損檢測(cè)器材的專業(yè)公司，主要生產(chǎn)的GV-ST（標(biāo)準(zhǔn)型）著色滲透探傷劑、核工業(yè)*著色滲透探傷劑、GV-FC型反差增強(qiáng)劑。

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  QNix 8500涂層測(cè)厚儀尼克斯專業(yè)代理

  QNix 8500涂層測(cè)厚儀尼克斯專業(yè)代理 篤摯儀器（上海）有限公司專業(yè)從事無損檢測(cè)、理化分析儀器的代理、生產(chǎn)、銷售。滲透探傷，磁粉探傷，超聲探傷，射線探傷，渦流探傷等五大類探傷儀器、輔耗材銷售一站式服務(wù)。公司是一家生產(chǎn)無損檢測(cè)器材的專業(yè)公司，主要生產(chǎn)的GV-ST（標(biāo)準(zhǔn)型）著色滲透探傷劑、核工業(yè)*著色滲透探傷劑、GV-FC型反差增強(qiáng)劑。

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  QNix 4500涂層測(cè)厚儀尼克斯上海代理

  QNix 4500涂層測(cè)厚儀尼克斯上海代理 QNix ® 4500度的優(yōu)點(diǎn)： 成熟，緊湊的手持式儀表 儀表型號(hào)：帶集成探頭或電纜探頭 快速測(cè)量：每分鐘可達(dá)120次測(cè)量 Fe的測(cè)量范圍可達(dá)5,000μm，NFe可達(dá)3000μm

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  涂層測(cè)厚儀尼克斯原裝真品篤摯供應(yīng)

  涂層測(cè)厚儀尼克斯原裝真品篤摯供應(yīng) 涂層厚度測(cè)量?jī)x，特別適用于大型測(cè)量表面 兩個(gè)獨(dú)立的鋼和鋁探針 高達(dá)5000µm大面積測(cè)量

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  測(cè)厚儀尼克斯上海篤摯儀器供給

  測(cè)厚儀尼克斯上海篤摯儀器供給QNix 4200涂層測(cè)厚儀采用磁性測(cè)厚原理，0~1250μm量程，精度±3%，WH-81涂層測(cè)厚儀是一體式探頭的測(cè)厚儀，另有鐵鋁雙基型號(hào)可供選擇

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  涂層測(cè)厚儀尼克斯篤摯供應(yīng)

  涂層測(cè)厚儀尼克斯篤摯供應(yīng) 具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）； 具有兩種工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（APPL）； 設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、Z大值（MAX）、Z小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV） 可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；

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