FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD菲希爾X射線測(cè)厚儀：能量色散型 X 射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀

X 射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀，配有可編程運(yùn)行的 X/Y 軸工作臺(tái)和 Z 軸升降臺(tái)，用于自動(dòng)測(cè)量超薄鍍層厚度或進(jìn)行痕量分析。

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD 是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀，特別適用于測(cè)量和分析超薄鍍層以及進(jìn)行痕量分析。其配備了高精度、可編程運(yùn)行的 X/Y 軸工作臺(tái)，是全自動(dòng)測(cè)量樣品的理想設(shè)備。

儀器設(shè)計(jì)特點(diǎn)

XDV-SDD 設(shè)計(jì)為界面友好的臺(tái)式測(cè)量儀器，具備以下特性：

配備高精度、可編程運(yùn)行的 X/Y 軸工作臺(tái)和馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的 Z 軸升降臺(tái)，當(dāng)具有防護(hù)功能的測(cè)量門開啟時(shí)，樣品臺(tái)能自動(dòng)移出到放置樣品的位置。

通過激光點(diǎn)，可以快速對(duì)準(zhǔn)需要測(cè)量的位置;儀器內(nèi)置帶有圖像放大及十字線功能的視頻系統(tǒng)，簡(jiǎn)化了樣品放置的過程，并可對(duì)測(cè)量點(diǎn)位置進(jìn)行精確微調(diào)。

測(cè)量門向上開啟，采用側(cè)面開槽設(shè)計(jì)。

軟件操作

所有的儀器操作，以及測(cè)量數(shù)據(jù)的計(jì)算和測(cè)量數(shù)據(jù)報(bào)表的清晰顯示，都可以通過功能強(qiáng)大而界面友好的 WinFTM® 軟件在電腦上完成。

菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD技術(shù)參數(shù)

元素測(cè)定：最多可同時(shí)測(cè)定從鋁(13)到鈾(92)中的 24 種元素。

工作臺(tái)與升降臺(tái)：馬達(dá)驅(qū)動(dòng)、可編程運(yùn)行的 X/Y 軸工作和 Z 軸升降臺(tái) 。

準(zhǔn)直器與濾片：馬達(dá)驅(qū)動(dòng)、可切換的準(zhǔn)直器和基本濾片。

儀器配置：配備帶鈹窗口的微聚焦鎢管，三擋可調(diào)節(jié)高壓，6 個(gè)可切換的基本濾片。