新型涂層測(cè)厚儀MiniTest 2500和MiniTest 4500結(jié)合了高精度的現(xiàn)代測(cè)量技術(shù)和經(jīng)典的處理概念。 涂層測(cè)厚儀MiniTest 2500和MiniTest 4500根據(jù)連接到測(cè)厚儀的傳感器類型，根據(jù)磁感應(yīng)或渦流原理進(jìn)行無(wú)損測(cè)量。

MiniTest 2500-MiniTest4500錯(cuò)誤信息故障排除：

E 1：探頭不兼容。
E 2：未連接探頭。 *重置后未連接任何探頭時(shí)，將顯示此錯(cuò)誤消息。
E 3：探頭故障。 在打開(kāi)儀器或在操作過(guò)程中探頭已斷開(kāi)連接時(shí)顯示。
E 4：傳感器提供不穩(wěn)定的測(cè)量值（例如，由于周圍的強(qiáng)磁場(chǎng)或在非常柔軟的材料上進(jìn)行測(cè)量時(shí)）。
E 5：儀器開(kāi)啟時(shí)，傳感器與金屬太近。
E 6：電池電壓低。 。
E 11：數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器飽和。 。
E 12：不允許零校準(zhǔn)。 。
E 13：不允許進(jìn)行CTC校準(zhǔn)。
E 14：不允許進(jìn)行2點(diǎn)校準(zhǔn)（使用兩個(gè)校準(zhǔn)箔）。
E 15：CTC校準(zhǔn)后無(wú)法進(jìn)行1點(diǎn)校準(zhǔn)。
E 16：所選的應(yīng)用程序已分配給另一個(gè)傳感器，或者傳感器已被修復(fù)。
E 17：傳感器未初始化
E 18：找不到BT設(shè)備

E 19：BT-連接失敗
E 20：校準(zhǔn)失敗
E 21：SD卡故障
E 22：文件錯(cuò)誤