二點(diǎn)校準(zhǔn)法又分一試片法和二試片法。還有一種針對(duì)測(cè)頭的基本校準(zhǔn)。本儀器的校準(zhǔn)方法是非常簡(jiǎn)單的。

　　鍍層測(cè)厚儀零點(diǎn)校準(zhǔn)

　　將探頭穩(wěn)壓在空基體上不放開，再按住校零鍵，此時(shí)會(huì)有蜂鳴省 聲，帶顯示屏上顯示CAL后，再提起探頭，校零成功，再將儀器拿 去測(cè)試工件即可

　　在基體上進(jìn)行一次測(cè)量，屏幕顯示<×.×μm>。

　　a) 按ZERO 鍵，屏顯<0.0>。校準(zhǔn)已完成，可以開始測(cè)量了。

　　b) 重復(fù)上述a、b 步驟可獲得更為的零點(diǎn)，高測(cè)量精度。零點(diǎn)校準(zhǔn)完成后就可進(jìn)行測(cè)量了。

　　鍍層測(cè)厚儀二點(diǎn)校準(zhǔn)

　　先校準(zhǔn)零位，校好零位后，根據(jù)要測(cè)量的涂層厚度，選擇一片比 較接近工件涂層厚度值的標(biāo)準(zhǔn)膜片，把膜片放在空基體上，將探頭 穩(wěn)壓下去測(cè)量，如果測(cè)量出來(lái)的值與膜片有小誤差，提起探頭后 通過(guò)“+”“-”按鍵進(jìn)行修正。

　　一試片法

　　這一校準(zhǔn)法適用于高精度測(cè)量及小工件、淬火鋼、合金鋼。

　　a) 先校零點(diǎn)(如上述)。

　　b) 在厚度大致等于預(yù)計(jì)的待測(cè)覆蓋層厚度的標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行一次測(cè)量，屏幕顯示<×××μm>。

　　c) 用“↓”或“↑”鍵修正讀數(shù)，使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值。校準(zhǔn)已完成，可以開始測(cè)量了。

　　注意:1.即使顯示結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)片值相符，按↑、↓鍵也是*的，例如按一次↑一次↓。

　　這一點(diǎn)適用于所有校準(zhǔn)方法。

　　2. 如欲較準(zhǔn)確地進(jìn)行二點(diǎn)校準(zhǔn)，可重復(fù)b、c 過(guò)程，以提高校準(zhǔn)的精度，減少偶然誤差。

　　二試片法

　　兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)片厚度至少相差三倍。待測(cè)覆蓋層厚度應(yīng)該在兩個(gè)校準(zhǔn)值之間。這種方法尤其適用于粗糙的噴沙表面和高精度測(cè)量。

　　a) 先校零值;

　　b) 在較薄的標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行一次測(cè)量，用“↓”或“↑”鍵修正讀數(shù)，使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值;

　　c) 緊接著在厚的一個(gè)樣片上進(jìn)行一次測(cè)量，用“↓”或“↑”鍵修正讀數(shù)，使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值。校準(zhǔn)已完成，可以開始測(cè)量了。